可聯(lián)用TCSPC模塊

HydraHarp 400, PicoHarp 330, PicoHarp   300, TimeHarp 260, MultiHarp 150，TimeHarp 200 (僅數(shù)據(jù)導(dǎo)入)

可聯(lián)用熒光系統(tǒng)

MicroTime 200
  MicroTime 100

激光掃描顯微系統(tǒng) (LSM)，支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌
  單獨(dú)的 TCSPC 模塊
  通過(guò)TCP/IP接口遠(yuǎn)程控制 (支持ZEN和 NIS Elements)

探測(cè)通道數(shù)量

1 到 8 detectors

采集模式

單點(diǎn)采集，多點(diǎn)采集，2D成像(XY，XZ，YZ)，3D成像(XYZ)，定時(shí)成像(XYT)，用于調(diào)節(jié)系統(tǒng)時(shí)使用的示波器模式

采集預(yù)覽

FLIM, FCS, FLCS 和FCCS, Time Trace, TCSPC柱狀圖
  最多同時(shí)在線(xiàn)顯示4種數(shù)據(jù)

自動(dòng)化測(cè)量

Z軸逐層成像, 定時(shí)成像, 圖片縫合, 多點(diǎn)測(cè)量

硬件控制

PDL 828 "Sepia II" 激光驅(qū)動(dòng)器
  E-710, E-725, E-727和寬范圍掃描儀控制器(Physik   Instrumente)

MicroTime 200的快門(mén)系統(tǒng)
  MicroTime 200 中寬視場(chǎng)熒光相機(jī)IDS uEye USB3

數(shù)據(jù)分析

總體特點(diǎn)

時(shí)間門(mén)控
  Binning

TCSPC binning
  TCSPC擬合(1到5多指數(shù)衰減擬合)

最小平方擬合, 最大可能性估算擬合, IRF解卷積擬合，尾部擬合，自舉誤差分析

TCSPC曲線(xiàn)的全局化分析

圖形化交互界面

成像

FLIM, FLIM-FRET, 熒光強(qiáng)度FRET, 各向異性成像, (時(shí)間門(mén)控) 熒光強(qiáng)度成像

Pattern Matching, 快速Pattern Matching
  可調(diào)壽命顏色分配及對(duì)比度
  特定區(qū)域分析 (ROI)

用于相位分析的 Bin輸出（通過(guò)熒光動(dòng)力學(xué)實(shí)驗(yàn)室開(kāi)發(fā)的第三方軟件Globals）

相關(guān)分析

FCS, FCCS, FLCS, PIE–FCS
  STED-FCS, STED-FLCS
  FCS 擬合 (擬合模型: 擴(kuò)散常數(shù), 三重態(tài), 構(gòu)象分析, 質(zhì)子化, 高斯PSF, 用戶(hù)自定義, 自舉誤差分析)
  全局分析
  FCS校準(zhǔn)
  反聚束/符合相關(guān)，總相關(guān)

FRET

PIE (脈沖交錯(cuò)激發(fā))
  滲濾校正
  FLIM-FRET

STED

STED, 門(mén)控STED,   STED-FLIM, 交錯(cuò)脈沖 STED及共聚焦, 分辨率估計(jì)

熒光強(qiáng)度Trace

分子閃爍(On/Off 柱狀圖), 計(jì)數(shù)率柱狀圖 (PCH), 爆發(fā)量柱狀圖, 強(qiáng)度門(mén)控制TCSPC, 熒光壽命 Traces, 壽命柱狀圖, BIFL

穩(wěn)態(tài)各向異性

包含物鏡校正系數(shù)

導(dǎo)出數(shù)據(jù)格式

BMP, ASCII, TIFF, BIN

用戶(hù)自定義腳本編譯 (STUPSLANG)

用戶(hù)自定分析步驟, 擬合功能, 多條件篩選
  整合控制外部其他器件