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高抑制BIPD布里淵光譜濾光器采用共軸光路和超緊湊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可以在自發(fā)布里淵顯微鏡或受激布里淵顯微鏡等標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)裝置中靈活應(yīng)用。值得注意的是，BIPD濾光器可以在幾分之一秒內(nèi)調(diào)諧到任何所需的激光頻率，并可在寬光譜的可見光和近紅外波長(zhǎng)范圍內(nèi)工作。超高的背景光抑制能力和堅(jiān)固的設(shè)計(jì)特點(diǎn)使 BIPD濾光器成為即使在極其渾濁的樣品中也能進(jìn)行布里淵光譜分析的理想選擇。
OCT光譜儀成像需要使用更長(zhǎng)的波長(zhǎng)才能在單次掃描中探測(cè)到大于幾毫米的深度，但這帶來(lái)了與NIR探測(cè)器相關(guān)的高成本問(wèn)題。為此，Wasatch Photonics 開發(fā)了一種創(chuàng)新的光譜儀設(shè)計(jì)，使我們能夠使用800 nm OCT實(shí)現(xiàn)高達(dá)12 mm的成像深度，這為在更寬的深度范圍內(nèi)進(jìn)行經(jīng)濟(jì)高效的特征測(cè)量開辟了新的可能性。受益于這種遠(yuǎn)程成像的應(yīng)用領(lǐng)域包括眼科、醫(yī)學(xué)，以及增材打印和激光加工的無(wú)損過(guò)程監(jiān)測(cè)。
-使用 Luminosa、MicroTime 200 和 LSM 升級(jí)套件進(jìn)行成像分析 -基于GPU加速算法快速分析 FLIM、FLIM-FRET 和各向異性數(shù)據(jù) -對(duì)z-stacks、延時(shí)序列和拼接圖像進(jìn)行高效批量分析 -先進(jìn)、靈活的ROI處理 熒光壽命成像分析軟件NovaFLIM
快速掃描VIS-NIR-SWIR-MIR光譜儀是一款緊湊型、快速掃描的光譜儀。它采用基于時(shí)域傅立葉變換檢測(cè)的技術(shù)，可以極其精確地監(jiān)測(cè)光源的發(fā)射光譜，并測(cè)量吸收、透射或反射光譜。
緊湊型正置寬場(chǎng)光致發(fā)光顯微鏡在許多情況下，要對(duì)半導(dǎo)體或太陽(yáng)能電池等材料進(jìn)行表征，需要以空間分辨率測(cè)量它們?cè)诟鱾€(gè)點(diǎn)的光物理特性。根據(jù)樣品的不同，除了在不同點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量外，在大面積樣品區(qū)域進(jìn)行掃描通常也很有意義。FluoMic 提供了一種快速、簡(jiǎn)便、可靠的方法來(lái)測(cè)量穩(wěn)態(tài)（從紫外到近紅外）和時(shí)間分辨（從 ps 到 ms）發(fā)光，空間分辨率低至2 μm。
